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    光學測量系統

    ZEISS O-INSPECT 322

     

    o-inspect 332O-INSPECT復合式測量機集光學式與接觸式測量技術于一身,因此可用于眾多部件的測量和分析。無需增加專用設備,O-INSPECT一機即可勝任。


    配置

    . Discovery遠心變焦鏡頭
    . 自適應照明系統
    . VAST XXT掃描探頭
    . 測針架
    . 標準球

    選項

    含玻璃托盤和網格托盤的上料系統
    校準托盤

    軟件

    CALYPSO
    測量范圍(in mm)

    X Y Z
    3/2/2 300 200 200

    長度測量誤差E0

    可配置的探頭

    VAST XXT
    Viscan

    可選用的軟件

    calypso

    蔡司測量解決方案

    CardioBridge

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